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                使用涂層測厚儀時應當遵守的規定

                發布時間:2020-08-08 作者:魯超超聲 點擊:94次

                使用涂層測厚儀時應當遵守的規定
                a 基體金屬特性
                  對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
                  對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質,應當與試件基體金屬的電性質相似。
                b 基體金屬厚度
                  檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法進行校準。
                c 邊緣效應
                  不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
                d 曲率
                  不應在試件的彎曲表面上測量。
                e 讀數次數
                  通常由于儀器的每次讀數并不完全相同,因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進行多次測量,表面粗造時更應如此。
                f 表面清潔度
                  測量前,應清除表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產物等,但不要除去任何覆蓋層物質


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